华谱光学
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单点探测器测试系统

性能优越,设计灵活
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基于团队十余年的研发经验,推出全新的HP-SpcQE光电探测器量子效率测试装置产品。该测试系统主要用于测试图像传感器线阵、面阵CCD/CMOS以及单点探测器的光电响应性能,如光谱响应度R、量子效率QE、单位探测率D*、噪声等效光功率(NEP)、响应非均匀性UNR等技术参数。

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主要特点
  • 01
    /
    一体化的光机电优化结构
  • 02
    /
    宽波段紫外到短波红外的光谱测量范围
  • 03
    /
    测试面照度均匀性达到99%
  • 04
    /
    光谱辐射可溯源国家与NIST辐射标准
  • 05
    /
    提供动态链接库DLL便于二次开发
  • 06
    /
    符合国标与欧标
技术参数

技术指标

参数

光谱范围(nm)

250~1060900~2500

照明光源

卤素灯、氙灯、EQ灯可选

光谱宽度(nm)

1~20

扫描间隔(nm)

1~20

光源稳定性

0.2%/h

光谱分辨率

0.1nm@λ=546.1nm,0.2nm@λ=1092.2nm

波长重复性

0.1nm@λ=546.1nm,0.2nm@λ=1092.2nm

波长定标精度

0.1nm@λ=546.1nm,0.2nm@λ=1092.2nm

量子效率测量不确定度

1.5%@λ=633nm

有效测试样品面积(mm)

20×20

测试样品面的照度均匀性

0.99

样品测试面辐射照度

5μW/cm²@λ=960nm

标准探测器光谱响应度

溯源国家计量标准

标准探测器放大器噪声

1pA/Hz1/2

通讯接口

RS232或USB2.0

软件

光谱扫描控制,数据采集与数据处理,提供系统控制的动态链接库DLL

外形尺寸(L×W×H)(mm)

600×600×800

重量(KG)

20

电源

AC220V


实测曲线
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标准200mm积分球光源光谱辐射亮度
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